技术与研发
Technology
Fabless Development
无晶圆厂开发体制
Microsignal公司是一家不设自有工厂、专注于受光IC设计与开发的无晶圆厂(Fabless)半导体制造商。我们最大限度发挥外包的优势,以日本国内外的大型半导体厂商为代工厂,能够为每个应用选择最合适的制造工艺。
此外,凭借独有的管理方法实现小批量生产,也便于支持研究开发用途。小批量起步的全定制受光IC,正是大型厂商难以做到、而我们的体制得以实现的开发模式。
通过兼顾高速与高灵敏度的单片集成光IC技术,我们开发出高性能且价格合理的器件。在短距离光纤通信领域,我们向通信相关厂商供应世界顶级水平的高性能收发器件。
| 工艺 | 工艺尺寸 |
|---|---|
| CMOS | 0.15μm〜 |
| BiCMOS | 0.25μm〜 |
| Bipolar | 0.25μm〜 |
| Mixed Signal | 0.15μm〜 |
注:“世界顶级水平”等表述基于现行网站的记载。将在核实依据资料后最终确定。
Core Technology
独创技术:点状光电二极管
本公司独创的光电二极管结构“点状扩散光电二极管”,是一项使受光元件的电容远低于其他公司产品、从而实现高灵敏度与高S/N的技术。其基本专利已于2017年在美国、2018年在日本获得授权。
通过该结构与屏蔽结构的组合,我们确认了在相同灵敏度下极限速度提高5倍以上、S/N比提高2.2倍以上(均为本公司实测)的性能。
※性能值(极限速度、S/N比)为基于本公司实测(产品宣传单记载)的数值。
Spectral Sensitivity
感光波长范围
我们承接从可见光到近红外的宽波长范围受光IC。可对应的波长范围因产品与工艺而异,具体规格请与我们个别商谈。
感光波长范围 400–1600 nm
覆盖可见光至近红外。波长范围仅为示例。
Development & Evaluation
开发与评估系统
我们承担从LSI的设计开发到所制作LSI的测量与评估的全部工作。设计中使用电路仿真工具(CADENCE、HSPICE、SPECTRE、PSPICE)以及CADENCE公司的LSI开发系统(电路验证、掩模版图、设计规则检查)。
测量评估系统与光学计测系统的主要设备包括:示波器、网络分析仪、误码率测试仪、光谱分析仪、激光光源、激光修调机、探针台、引线键合机、环境试验箱、E/O转换器、O/E转换器、光学平台等。
