技術・研究開発
Technology
Fabless Development
ファブレス開発体制
マイクロシグナルは自社工場を持たない、受光ICの設計・開発に特化したファブレス半導体メーカーです。アウトソーシングのメリットを最大限に活かし、国内外の大手半導体メーカーをファンドリーとして、アプリケーションに最適の製造プロセスを選択できます。
また、独自の管理手法により少量生産を可能とし、研究開発への対応も容易にしています。少量からのフルカスタム受光ICという、大手にはできない開発を可能にする体制です。
高速・高感度を両立したモノリシック光IC技術により、高性能かつ安価なデバイスを開発しています。短距離光ファイバー通信の分野では、世界トップレベルの高性能な送受信デバイスを通信関連メーカー様に供給しています。
| プロセス | 微細度 |
|---|---|
| CMOS | 0.15μm~ |
| BiCMOS | 0.25μm~ |
| Bipolar | 0.25μm~ |
| Mixed Signal | 0.15μm~ |
※「世界トップレベル」等の表現は現行サイトの記載に基づきます。根拠資料を確認のうえ最終調整します。
Core Technology
独自技術:ドットフォトダイオード
当社独自のフォトダイオード構造「ドット拡散フォトダイオード」は、受光素子を他社製品に比べ超低容量化し、高感度化や高S/Nを実現する技術です。基本特許は2017年に米国、2018年に日本で取得しています。
この構造とシールド構造の組み合わせにより、同一感度なら限界速度5倍以上、S/N比2.2倍以上(いずれも当社実測)という性能を確認しています。
※性能値(限界速度・S/N比)は当社実測(製品チラシ記載)に基づく数値です。
Spectral Sensitivity
感度波長域
可視光から近赤外まで、幅広い波長域の受光ICを手がけています。対応可能な波長域は製品・プロセスにより異なりますので、具体的な仕様は個別にご相談ください。
感度波長域 400–1000 nm
可視光から近赤外まで。
Development & Evaluation
開発・評価システム
LSIの設計開発から、製作したLSIの測定・評価までを行います。設計には回路シミュレーション(CADENCE、HSPICE、SPECTRE、PSPICE)と、CADENCE社のLSI開発システム(回路検証、マスクレイアウト、デザインルールチェック)を使用しています。
測定評価システム・光学計測システムの主要設備として、オシロスコープ、ネットワークアナライザ、ビットエラーレートテスタ、光スペクトラムアナライザ、レーザー光源、レーザートリマ、プローバ、ワイヤーボンダー、環境試験器、E/O変換器、O/E変換器、光ベンチなどを備えています。
